借助高分辨率X光衍射对物质电荷密度和静电学性质的分析

1144766066 · 发表于 2022-5-6 20:52:49

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科学技术的不断发展和普及，让人们对于无法直接用肉眼彻底认知的事物有了更大的兴趣——从宇宙空间中距离我们十分遥远的星系，到身边物质的各种性质的来源。而无论从宏观还是微观，人类得到的观测结果大都和时间的积累以及空间的位置相关。对于微观研究而言，物质的性质总是建立在结构的基础上的；而对于结构分析的精度要求就决定了对于物质性质理解的深度。对于分子层面的结构研究而言，如何得到更精确的电子排布情况依旧是悬而未决的题目。高分辨率X射线衍射单晶结构分析技术是一种可以精确测定分子三维空间结构的物理方法。X射线衍射不仅可以反应出晶体的详细内部结构，亦可以与电子衍射技术和中子衍射技术相辅相成，描绘出晶体内部的量子电荷密度分布(quantum charge density)。由于分子结构的维系和原子之间电子云运动规律的重塑有密切的关联，因此分子中的电荷密度分布不仅是其静电学性质的一种表征方式，也是原子间乃至分子间相互作用研究的数据基础。利用衍射原理对电荷密度的实验研究已经有近百年的历史，但是借助高分辨率X射线衍射实验对其进行的定量分析在国内的研究只是刚刚起步。本毕业设计主要就电荷密度的计算方式以及其重要性进行阐述，并对高分辨率X射线单晶结构衍射实验的方法以及其注意事项等等进行初步的说明。

借助高分辨率X光衍射对物质电荷密度和静电学性质的分析

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