基于故障模型的FPGA测试关键技术研究

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发表于 2022-8-31 20:25:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
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雅宝题库答案
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雅宝题库解析:
摘    要由于FPGA产品更新换代迅速、生产厂商技术保密以及国内技术手段和条件限制等原因,无法对装备中作为关键、核心器件且大量使用的进口FPGA进行全面考核、并剔除有潜在缺陷的器件,有可能给武器装备系统带来质量隐患。本文基于故障模型的FPGA测试关键技术研究完全脱开应用层面,以基于SRAM的典型FPGA器件为测试验证对象,以FPGA结构资源的测试技术为研究内容,以故障模型为核心,以全面、高效的测试和评价技术为研究目标,主要研究工作如下:1. 研究了进口FPGA在当前武器装备中的使用情况、存在题目及测试需求分析,深入研究了基于SRAM的FPGA各类典型结构资源、故障覆盖率测度和故障覆盖率等,提出了基于故障模型的FPGA测试技术的思路和实施方案。2. 研究了FPGA查找表测试技术。针对MAJ树测试编程结构的方法可能存在的故障屏蔽现象、进行测试的配置次数的题目以及建立的自测试功能的查找表BIST结构在进行综合时存在的题目,提出了基于局部链、具有自测试功能的BIST结构和测试图形,有效解决了FPGA应用软件综合时省去LUT的题目和输出波形不对称题目。3. 研究了FPGA嵌入式存储器测试技术。结合通用存储器的故障物理模型和测试方法,建立了适用FPGA嵌入式存储器的故障模型和测试技术路线。针对通用March C-算法检测不出存储器单元内故障(Blocks RAM)的题目,提出增加典型测试图样技术,有效解决了嵌入式存储器单元内耦合故障的检测题目。实例验证表明提出的FPGA嵌入式存储器的测试方法具有较好的通用性和移植性。4. 研究了FPGA互连资源测试技术。针对典型FPGA结构的三类互连资源的故障模式,建立了相应的故障测试模型。研究并建立了基于Walking-1算法的连线资源内建自测试结构,结合Walking-1算法与分段激励配置方法,有效实现了连线资源的有效故障测试和定位。研究了当前主流FPGA可编程互连存在的技术题目,提出了可行的解决方案和技术思路。最后对典型FPGA进行了实例验证。5. 研究了FPGA随机测试技术。针对基于故障的确定性测试技术缺乏对所有FPGA结构资源进行协同综合考虑的题目,提出了一种利用伪随机序列技术测试FPGA器件的方法,将FPGA器件内部可编程逻辑资源视为一个整体进行测试,可消除划分功能模块测试时对不同资源使用的局限。其优点在于,无需对FPGA被测资源中每个可能存在的故障生成相应的测试向量,且生成测试向量的规模和长度灵活可控,有助于解决FPGA规模不断增大、结构不断复杂造成的测试瓶颈题目。





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