|
题目:
雅宝题库答案:
****此区域为收费内容**** 需支付 1 知识币后可查看,1币=0.01元查看答案
雅宝题库解析:
结温是影响半导体器件可靠性的主要因素,实现对器件结温的检测与控制是提高器件可靠性的基础。现有的结温检测技术是利用工作电流和测量电流有规律地瞬间交替,从而通过测量电流来测量结温。但是在老炼过程中这种测量方法是断续加热,破坏了标准规定的既定试验条件。老炼过程中的结温控制主要通过控制壳温来实现,不论采用哪种方法,稍一疏忽就会失控。针对以上题目,本论文在IEC 60747-7相关标准的基础上,主要研究双极型晶体管结温的实时检测技术,以及双极型晶体管老炼过程中的结温控制技术。利用小电流过趋热效应实现了晶体管结温的实时测量,通过不同温度下不同测试电流下的测试数据,来校准大电流时的温敏参数,用耗散功率的加热电流直接作为测量电流来得到晶体管的结温,实现结温的实时测量,解决了大电流作用下温敏系数测不准的题目。提出了脉冲功率法控制结温的可行性,详细分析了脉冲功率、频率、占空比对脉冲期间结温最大值与最小值的影响,证明了连续脉冲功率老炼方法可以达到试验标准 ℃,省去了控制壳温的麻烦。分析研究了晶体管从制造到使用过程的热设计技术,提出了改进晶体管热稳定性的措施及减小热阻的方法。 |
上一篇:复杂截面型材拉弯成形技术研究下一篇:超声振动对Zn-55%Al-1.6%Si合金凝固组织的影响
|