【国开搜题】国家开放大学 一网一平台 光伏检测与分析014 期末考试押题试卷与答案

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发表于 2024-4-20 13:02:32 | 显示全部楼层 |阅读模式
光伏检测与分析-014
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一 、单选题
1. 用冷热探笔法测量( )半导体时,冷端带正电,热端带负电。
A. P型
B. N型
C. PN型
D. 以上皆不是
答案:A
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2. 用冷热探笔法测量( )半导体时,冷端带负电,热端带正电。
A. P型
B. N型
C. PN型
D. 以上皆不是
答案:B
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3. 硅晶体中,氧的分凝系数( )1,碳的分凝系数( )1。
A. 大于 小于
B. 大于 大于
C. 小于 小于
D. 小于 大于
答案:A
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4. 光图定向法结果直观,操作( ),误差( )。
A. 简单 较大
B. 复杂 较大
C. 简单 较小
D. 复杂 较小
答案:A
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5. 质谱的定量分析是在质谱图上,谱线的峰值所对应的离子流强度即谱线的黑度代表了( )从而进行杂质分析。
A. 离子的质量
B. 离子的浓度
C. 离子的运动
D. 离子的温度
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6. 直拉单晶中氧含量头部与尾部相比( )。
A. 较高
B. 相同
C. 较低
D. 无法判断
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7. 晶面指数最低的晶面总是具有( )的晶面间距。
A. 最小
B. 相等
C. 最大
D. 无法判断
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8. 以下表示晶面指数最恰当的是( )。
A. (664)
B. (463)
C. (333)国开一网一平台
D. (246)
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9. 露点法测定气体中的水分时,本岗位存在的危险源是( )。
A. 液氮低温冻伤
B. 潜在氢气泄露引起的爆炸
C. 温度过高
D. 没有明显危险源
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10. 露点法测定气体中的水分时,本岗位存在的危险源是( )。
A. 液氮低温冻伤
B. 潜在氢气泄露引起的爆炸
C. 温度过高
D. 没有明显危险源
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11. RO反渗透技术是利用( )为动力的膜分离过滤技术。
A. 吸附力
B. 离子交换
C. 电力
D. 压力差
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12. 纯水是电阻率达到( )左右的水。
A. 8
B. 9,我们的目标是要做全覆盖、全正确的答案搜索服务。
C. 10
D. 11
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13. 树脂失效表明离子交换树脂可供交换的( )大为减少。
A. CL-
B. Na
C. H+和OH-
D. Ca
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14. 下列哪一项不是天然水的三大杂质之一( )。
A. 悬浮物质
B. 挥发物质
C. 胶体物质
D. 溶解物质
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15. 硅单晶样品对红外光的反射率越( ),吸收系数越( ),那么红外光的透射率就越小。
A. 高 大
B. 高 小
C. 低 大
D. 低 小
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16. 漩涡缺陷是晶体中( )的局部聚集。
A. 点缺陷
B. 线缺陷
C. 面缺陷
D. 微缺陷
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17. ( )是影响硅器件的成品率的一个重要因素,也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。
A. 点缺陷
B. 线缺陷
C. 面缺陷
D. 微缺陷
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18. 放射线同位素的量越多,放出的γ射线的强度( )。
A. 越小
B. 不变
C. 越大
D. 随机变化
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19. X射线定向法的误差可以控制在( )范围内,准确度高。
A. ±10',我们的目标是要做全覆盖、全正确的答案搜索服务。
B. ±15'
C. ±20'
D. ±30'
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20. X射线定向法的误差可以控制在( )范围内,准确度高。
A. ±10'
B. ±15'
C. ±20'
D. ±30'
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二 、多选题
1. 由于硅晶体经历了各种温度的热处理,过饱和的间隙氧会在硅晶体中偏聚和沉淀,形成了( )。
A. 氧施主
B. 氧沉淀
C. 二次缺陷
D. 氧分离
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2. 测量少数载流子寿命时注入比控制的方法主要有( )方面。
A. 控制氙灯的闪光电压
B. 加滤光片
C. 加光阑
D. 加热硅单晶
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3. 某样品受到红外线照射时,会产生以下( )现象。
A. 反射
B. 折射
C. 吸收
D. 透过
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4. 一个气相色谱系统包括( )。
A. 可控而纯净的载气源
B. 进样口
C. 色谱柱
D. 检测器
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5. 在立方晶系中,晶面和晶面间的夹角为( )。
A. 0°国开一网一平台
B. 30°
C. 60°
D. 90°
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三 、问答题
1. 简述离子交换法制备纯水交换、再生过程。
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2. 简述用分析法对三氯氢硅中痕量杂质的化学光谱测定的方法原理。
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3. 简述气相色谱法基本原理。
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四 、配伍题
1. 将下列RO膜污染原因与适应药液一一对应。
A. 1.5%EDTA溶液
B. 碳酸盐结垢
C. 有机物污染及硫酸盐结构
D. 1%富尔马林溶液
E. 3%柠檬酸溶液
F. 细菌污染
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2. 将下列天然水中杂质三大部分情况一一对应。
A. 溶胶、硅胶、铁、铝
B. 悬浮物质
C. 胶体物质
D. 细菌、泥沙、黏土等其他不容物质,我们的目标是要做全覆盖、全正确的答案搜索服务。
E. 溶解物质
F. Ca 、Mg、N【A.】Fe、Mn的酸式碳酸盐
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3. 将下列立方晶系部分晶面间的夹角关系一一对应。
A. 0° 60° 90°
B. {100} {100}
C. {100} {110}
D. 0° 90°
E. {110} {110}
F. 45° 90°
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4. 将以下X射线定向仪主要构成部分一一对应。
A. 吸盘
B. X射线发生部分
C. X射线检测部分
D. X射线管
E. 样品台
F. 盖革计数管和计数时率计
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5. 将下列不同电阻率的测量电流范围一一对应。
A. 样品电阻率<0.01
B. 样品电流<100
C. 样品电阻率0.01~1
D. 样品电流<10
E. 样品电阻率1~30
F. <1
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