基于应力—强度干涉理论的电子设备可靠性分析方法研究

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电子设备在全寿命周期过程中会经历各种环境，包括自然环境和机械环境，某些特定的环境易造成设备的破坏，影响其可靠性。本论文借鉴应力—强度干涉理论（SSI）的思想和方法分析电子设备在特定的环境下受敏感应力作用时的可靠性。在现实世界中，特定环境施加给电子设备的敏感应力多数是随机变量，批生产电子设备相应的极限工作应力（强度）也通常表现为随机变量，分别用和表示，那么，当应力小于强度，即时，设备在这种环境下就不会损坏，其概率即为设备不会损坏的可能性。这种方法得到的结果能够很好地判断设备在特定环境下可靠性的高低。但是，电子设备的可靠性会随着应力施加时间的延长而降低，在中没有体现时间参变量，不能反映出设备在特定环境下可靠性随时间的变化。针对这一情况，本论文根据应力作用过程，将应力分为离散应力和连续应力，分别引入泊松过程和布朗运动加以描述，从而在模型中引入时间变量，建立可靠度关于时间的函数。然后，根据建立的离散应力作用可靠度函数，对于应力和强度服从几种典型分布的情形，分析了电子设备在特定的敏感应力下可靠性随时间的变化，并且研究了强度参数变化对可靠性的影响。对于应力和强度分布类型未知的情形，本论文引入了非参数统计方法，研究了基于应力—强度干涉理论（SSI）的可靠度无偏估计和一致最小方差无偏估计。设备的可靠性状态，以及应力和强度大量存在着模糊性，本论文分别研究了可靠性状态具有模糊性，应力和强度为模糊变量，应力为随机变量强度为模糊变量，以及应力和强度为模糊随机变量时基于应力—强度干涉理论（SSI）的可靠性分析。本论文的研究能够为分析电子设备在特定环境下受敏感应力作用的可靠性提供新的途径。

基于应力—强度干涉理论的电子设备可靠性分析方法研究

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